低温(< 4.3K)超高真空扫描探针显微系统QT-4300

低温(< 4.3K)超高真空扫描探针显微系统QT-4300

高稳定性,高性价比,可扩展光学探测功能,打开微观之门的利器。

可进行独立的扫描隧道显微镜形貌和谱学(STM/S)测量,或基于qPlus传感器的原子力显微镜(AFM)测量。也可用同一探针同时提取STM和AFM信号。

可升级磁力显微镜(MFM)和开尔文探针显微镜(KPFM)等功能。

配备分子束外延(MBE)生长腔,可对样品进行原位生长和处理。

最低温度 < 4.3K
真空度(测量及MBE腔) < 2X10-10mbar
样品粗动范围
1 mm × 1 mm (XY)
扫描范围 1000nm × 1000nm × 300nm (XYZ) @ 4.3K
STM/AFM空间分辨率  XY方向优于200pm;Z方向优于5pm,可实现原子分辨
STS能量分辨率         < 2meV @ 4.3K
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