极低温(< 0.4K)超高真空扫描探针显微系统QT-300

极低温(< 0.4K)超高真空扫描探针显微系统QT-300

更低的温度,更高的能量分辨率,更多的调控自由度,探索微观世界的利器。

可进行独立的扫描隧道显微镜形貌和谱学(STM/S)测量,或基于qPlus传感器的原子力显微镜(AFM)测量。也可用同一探针同时提取STM和AFM信号。

可升级磁力显微镜(MFM)和开尔文探针显微镜(KPFM)等功能。

可为STM和AFM测量提供极低温和强磁场条件,具有极高的能量分辨率。

配备分子束外延(MBE)生长腔,可对样品进行原位生长和处理。

最低温度 0.4K
磁场强度 最高11T的单轴磁场或9T-2T-2T的矢量磁场
真空度(测量及MBE腔) 2X10-10mbar
样品粗动范围
1mm × 1mm (XY)
扫描范围 1000nm × 1000nm × 300nm (XYZ) @ 0.4K
STM/AFM空间分辨率  XY方向优于200pm;Z方向优于5pm,可实现原子分辨
STS能量分辨率         0.2meV @ 0.4K

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