极低温（< 0.4K）超高真空扫描探针显微系统QT-300

可进行独立的扫描隧道显微镜形貌和谱学（STM/S）测量，或基于qPlus传感器的原子力显微镜（AFM）测量。也可用同一探针同时提取STM和AFM信号。

可升级磁力显微镜（MFM）和开尔文探针显微镜（KPFM）等功能。

可为STM和AFM测量提供极低温和强磁场条件，具有极高的能量分辨率。

配备分子束外延（MBE）生长腔，可对样品进行原位生长和处理。